آزمایش وسیله مهمی برای اطمینان از عملکرد و عملکرد است. تست تراشه را می توان به دو بخش اصلی تقسیم کرد. CP (کاوشگر تراشه) و FT (تست نهایی). برخی از تراشه ها نیز SLT (تست سطح سیستم) را انجام می دهند. ...
پلاسما اولین بار توسط ویلیام کروکس در سال 1879 کشف شد و در سال 1929 توسط ایروینگ لانگمویر "پلاسما" نامگذاری شد. کاربرد پلاسما در ساخت تراشه بسیار رایج و مهم است، می توان گفت که ...
