테스트는 기능과 수율을 보장하는 중요한 수단입니다. 칩 테스트는 두 가지 주요 부분으로 나눌 수 있습니다. CP(칩 프로버링) 및 FT(최종 테스트). 일부 칩은 SLT(시스템 수준 테스트)도 수행합니다. ...
고밀도 세라믹 진공 척 (다공성 세라믹 진공 척)은 기공 크기가 2 ~ 3 미크론 인 특수 다공성 세라믹 소재로 차단하기 쉽지 않고, 높은 진공력, 일부 영역 광고...
