Kiểm tra là một phương tiện quan trọng để đảm bảo chức năng và năng suất. Kiểm tra chip có thể được chia thành hai phần chính. CP (thăm dò chip) và FT (kiểm tra cuối cùng). Một số chip cũng thực hiện SLT (kiểm tra mức hệ thống). ...
Plasma được William Crookes phát hiện lần đầu tiên vào năm 1879 và được Irving Langmuir đặt tên là “plasma” vào năm 1929. Việc ứng dụng plasma trong sản xuất chip rất phổ biến và quan trọng, có thể nói...