Pengujian merupakan sarana penting untuk memastikan fungsi dan hasil. Pengujian chip dapat dibagi menjadi dua bagian utama. CP (pemeriksaan chip) dan FT (tes akhir). Beberapa chip juga melakukan SLT (system level test). ...
Plasma pertama kali ditemukan oleh William Crookes pada tahun 1879 dan diberi nama “plasma” oleh Irving Langmuir pada tahun 1929. Penerapan plasma dalam pembuatan chip sangatlah umum dan penting, dapat dikatakan...