Pengujian adalah cara penting untuk memastikan fungsi dan hasil. Ujian cip boleh dibahagikan kepada dua bahagian utama. CP(penyelidikan cip) dan FT(ujian akhir). Sesetengah cip juga melakukan SLT (ujian tahap sistem). ...
Plasma pertama kali ditemui oleh William Crookes pada tahun 1879 dan dinamakan "plasma" oleh Irving Langmuir pada tahun 1929. Aplikasi plasma dalam pembuatan cip adalah sangat biasa dan penting, boleh dikatakan t...