Ведущий производитель керамического инструмента для прецизионной обработки

Сопутствующие товары

Микропористый керамический вакуумный патрон

Карбид кремния используется для изготовления коррозионностойких деталей, деталей уплотнений, деталей, устойчивых к высоким температурам, направляющих и квадратных балок.

Электростатический патрон с совместимостью, высокой плотностью, высокой структурной прочностью и индивидуальной

Плавающая платформа на пористом воздухе с технологией передачи нагрузки бесконтактным способом для полупроводниковой промышленности

Керамика из нитрида кремния с превосходными физическими, химическими и механическими свойствами.

Материал PEEK с высокоэффективным конструкционным пластиком, обладающий превосходной термостойкостью, химической стойкостью, механической прочностью и стабильностью размеров.

Керамические конструктивные детали (керамические детали)

Самые продаваемые продукты

Керамические детали из оксида бериллия, используемые в автомобилях, полупроводниках и больших интегральных схемах.

Высокоточный керамический поршень для новой энергетики и медицины.

Керамика из нитрида алюминия, используемая для теплорассеивающих деталей и деталей, устойчивых к коррозии.

Керамика из оксида бериллия с высокой теплопроводностью и низкими характеристиками потерь.

Керамика из карбида алюминия и кремния, используемая в аэрокосмической, автомобильной, военной, электронной, спортивной областях.

Патрон с кольцевой канавкой широко используется в оборудовании для производства полупроводников для поглощения, фиксации, перемещения и обработки кремниевых пластин, пластин и различных заготовок и материалов.

Связанный блог

Ключевой компонент полупроводников — внедрение керамического патрона и мирового рынка.

Электростатическая присоска, также известная как электростатический патрон (ESC, e-Chuck), представляет собой приспособление, использующее принцип электростатической адсорбции для удержания и фиксации адсорбированного объекта, подходящее для...

Полупроводниковые технологии и оборудование: тестирование чипов и оборудование

Тестирование является важным средством обеспечения функциональности и производительности. Тестирование чипов можно разделить на две основные части. CP (проверка чипа) и FT (окончательное испытание). Некоторые чипы также выполняют SLT (тест системного уровня). ...

Связанный поиск

Leave Your Message