Ведущие производители полупроводниковых компонентов Юго-Восточной Азии — получите ценовое предложение сегодня

Сопутствующие товары

Керамические конструктивные детали (керамические детали)

Керамика из карбида алюминия и кремния, используемая в аэрокосмической, автомобильной, военной, электронной, спортивной отраслях.

Зажимной патрон для пластин, используемый для устройства экспонирования полупроводников и устройства для проверки пластин.

Конструкционная деталь из кварцевого стекла, используемая в полупроводниковой, оптике, оптической связи, фотоэлектрической и светодиодной областях.

Электростатический патрон с совместимостью, высокой плотностью, высокой структурной прочностью и индивидуальной

Материал PEEK с высокоэффективным конструкционным пластиком, обладающий превосходной термостойкостью, химической стойкостью, механической прочностью и стабильностью размеров.

Плавающая платформа на пористом воздухе с технологией передачи нагрузки бесконтактным способом для полупроводниковой промышленности

Самые продаваемые продукты

Керамические детали из оксида бериллия, используемые в автомобилях, полупроводниках и больших интегральных схемах.

Квадратная балка и направляющая для сверхточной платформы перемещения и оборудования обнаружения

Керамика из глинозема с превосходной стойкостью к плазменной коррозии и высокой износостойкостью.

Микропористый керамический вакуумный патрон

Патрон с кольцевой канавкой широко используется в оборудовании для производства полупроводников для поглощения, фиксации, перемещения и обработки кремниевых пластин, пластин и различных заготовок и материалов.

Карбид кремния используется для изготовления коррозионностойких деталей, деталей уплотнений, деталей, устойчивых к высоким температурам, направляющих и квадратных балок.

Связанный блог

Полупроводниковые технологии и оборудование: тестирование чипов и оборудование

Тестирование является важным средством обеспечения функциональности и производительности. Тестирование чипов можно разделить на две основные части. CP (проверка чипа) и FT (окончательное испытание). Некоторые чипы также выполняют SLT (тест системного уровня). ...

Важный элемент в производстве чипов — плазма.

Плазма была впервые открыта Уильямом Круксом в 1879 году и названа «плазмой» Ирвингом Ленгмюром в 1929 году. Применение плазмы в производстве чипов очень распространено и важно, можно сказать, что...

Связанный поиск

Leave Your Message