การทดสอบเป็นวิธีการสำคัญในการรับประกันการทำงานและผลผลิต การทดสอบชิปสามารถแบ่งได้เป็นสองส่วนหลัก CP (การตรวจสอบชิป) และ FT (การทดสอบครั้งสุดท้าย) ชิปบางตัวยังดำเนินการ SLT (การทดสอบระดับระบบ) -
Epitaxy หมายถึงการเติบโตของคริสตัลหรือการสะสมของวัสดุซึ่งมีตำแหน่งที่สำคัญอย่างยิ่งในกระบวนการผลิตไมโครอิเล็กทรอนิกส์และออปโตอิเล็กทรอนิกส์
